膜厚測(cè)量系統(tǒng) FE-3700/5700

產(chǎn)品信息特殊長(zhǎng)度可以高速、高精度地測(cè)量各種玻璃基板上各種薄膜的膜厚和光學(xué)常數(shù)。除了支持包括下一代尺寸在內(nèi)的大型玻璃基板外，它還支持 LCD、TFT 和有機(jī) EL。用法 LCD ITO...

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產(chǎn)品介紹

產(chǎn)品信息

特殊長(zhǎng)度

可以高速、高精度地測(cè)量各種玻璃基板上各種薄膜的膜厚和光學(xué)常數(shù)。除了支持包括下一代尺寸在內(nèi)的大型玻璃基板外，它還支持 LCD、TFT 和有機(jī) EL。

用法

LCD
ITO / Glass, PI / OC / Glass, CF / Glass, Resist / Glass

TFT
SiN / a-Si / 玻璃

有機(jī)EL
有機(jī)EL / ITO / 玻璃

PDP
介電層/玻璃